產(chǎn)品時(shí)間：2025-05-28
訪問量：325
廠商性質(zhì)：代理商
生產(chǎn)地址：
USM36L/USM36S風(fēng)電葉片探傷儀|美國(guó)GE雙晶探頭|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司全國(guó)*
選型：
以下3種機(jī)型都可選擇LEMO 01或BNC探頭接口，儀器基本配置包括主機(jī)、鋰電池、外置電源、SD卡、說(shuō)明書、儀器箱。主要功能區(qū)別如下：
USM36 一款基本型超聲波探傷儀
USM36 DAC 包含DAC/TCG、AWS、SWP
USM36 S 包含DAC/TCG, AWS, SWP, DGS, PPRF, BEA, 3G
低配的USM36可選配功能：
AWS | AWS校正工具，根據(jù)AWS D1.1結(jié)構(gòu)焊道碼 |
DAC JISDAC CNDAC DAC | 校正工具，16點(diǎn)，根據(jù)EN1712，EN 1713，EN 1714，ASTME164，ASME，ASME III，JIS Z3060，GB11345 TCG: 120 dB動(dòng)態(tài)，110 dB/μs斜率 |
DGS | DGS校正工具，根據(jù)EN 1712, EN1713,EN 1714, ASTM E164 |
數(shù)據(jù)紀(jì)錄器 | 網(wǎng)格文件格式 |
3G | 增加第3個(gè)監(jiān)視閘-監(jiān)視閘C |
SWP | 方波脈沖產(chǎn)生器 為優(yōu)化脈沖發(fā)射器的參數(shù)，電壓設(shè)定在120~300V，每一刻度為10V，脈沖寬度設(shè)定為30~500 ns，每一刻度為10 ns |
Phantom-PRF | 幻影回波-脈波反復(fù)率用于識(shí)別在低衰減材料中多反射引起的錯(cuò)誤回波 |
BEA | 背面回波衰減器 |
產(chǎn)品描述
斜探頭, 雙晶 (TR)，雙晶斜探頭
應(yīng)用
• VS 橫波型
– 檢測(cè)小的近表缺陷
– 薄壁管和容器
– 環(huán)件
• VRY 和VSY 縱波型
– 粗晶粒焊縫檢測(cè)
– 衰減材料
– 奧氏體焊縫
– 0°型號(hào)應(yīng)用于"爬波"
性能特征
• **的近表分辨率
• 散射噪聲小
• 模鑄外殼耐用，符合人機(jī)工程學(xué)
• VS 和 VSY 型Microdot 連接口，側(cè)裝
• VRY型 Lemo 00 連接口
帶塑料楔的TR斜探頭
主要特性：
·單獨(dú)的發(fā)射和接收相傾斜，產(chǎn)生一個(gè)聚焦區(qū)域，提高缺陷探測(cè)能力
·VS..類型探頭進(jìn)行橫波斜掃描
·粗晶探頭VRY..和VSY..進(jìn)行縱波斜掃描
·當(dāng)測(cè)試強(qiáng)聲波散射特性材料時(shí)，短脈沖粗晶探頭可以獲得很高信噪比
·外殼堅(jiān)固實(shí)用
主要用途：
通 常 ： 近 表 面 或 者 確 定 區(qū) 域 小 缺 陷 檢 測(cè) 和 評(píng) 估 ， 這 些 位 置 是 TR探頭不能靠近的區(qū)域，還有那些與表面垂直或成一定角度的 缺陷。
VS..： 光滑或輕微粗糙表面小型或大物體的檢測(cè)，對(duì)橫波衰減效應(yīng)弱 的材料（如非合金或低合金細(xì)晶粒鋼）。例如，它們用于探測(cè) 小支架上的徑向裂縫、薄壁容器內(nèi)部的腐蝕性裂縫，還有以直 接掃描模式熱交換管道中的橫向裂縫。這意味著從被測(cè)物體的 后壁沒有聲波束的反射。
VRY..： 用于測(cè)試那些聲波散射特性強(qiáng)而不能用橫波測(cè)試的中大型尺寸 的厚壁物體（如奧氏體鋼制成的容器、化工和能源廠的奧氏體 焊接件）。用于低碳鋼檢測(cè)的爬波由70°探頭產(chǎn)生。
VSY..： 用于那些不能用橫波檢測(cè)以及其形狀需要小型探頭檢測(cè)的中小 型尺寸物體的測(cè)試。例如，它們被證明可以很好地檢測(cè)復(fù)雜形 狀零件焊縫。用于低碳鋼檢測(cè)的爬波由70°探頭產(chǎn)生。
用TR斜探頭VS45測(cè)試焊點(diǎn)
的貫通性
用TR斜探頭VS60檢測(cè)
鋁環(huán)內(nèi)部的縱向裂縫
用斜探頭VRY60檢測(cè)奧氏
體管道焊縫檢測(cè)
用斜探頭VSY45和VSY70進(jìn)
行泵架的焊縫檢測(cè)
用于縱波或橫波的帶組合塑料楔的TR斜探頭
斜探頭, 雙晶 (TR)
典型波形與頻譜
探頭規(guī)格型號(hào)
類型 | a x b(mm)a x b(in) | 頻率MHz | ?角度 | F(mm) | F(in) | |
VS45 | 3.5 x 10 | .14 x .39 | 4 | 45 | 10 | 0.4 |
VS45-EN | 3.5 x 10 | .14 x .39 | 4 | 45 | 10 | 0.4 |
VS60 | 3.5 x 10 | .14 x .39 | 4 | 60 | 10 | 0.4 |
VS60-EN | 3.5 x 10 | .14 x .39 | 4 | 60 | 10 | 0.4 |
VS70 | 3.5 x 10 | .14 x .39 | 4 | 70 | 10 | 0.4 |
VS70-EN | 3.5 x 10 | .14 x .39 | 4 | 70 | 10 | 0.4 |
VRY45 | 10 x 22 | .39 x .87 | 1.8 | 45 | 40 | 1.6 |
VRY60 | 10 x 22 | .39 x .87 | 1.8 | 60 | 35 | 1.4 |
VRY70 | 10 x 22 | .39 x .87 | 1.8 | 70 | 35 | 1.4 |
VSY45-2 | 5 x 10 | .20 x .39 | 2 | 45 | 16 | 0.6 |
VSY60-2 | 5 x 10 | .20 x .40 | 2 | 60 | 16 | 0.6 |
VSY70-2 | 5 x 10 | .20 x .41 | 2 | 70 | 16 | 0.6 |
VSY45-4 | 5 x 10 | .20 x .42 | 4 | 45 | 20 | 0.8 |
VSY60-4 | 5 x 10 | .20 x .43 | 4 | 60 | 20 | 0.8 |
VSY70-4 | 5 x 10 | .20 x .44 | 4 | 70 | 20 | 0.8 |
特性：非常好的近場(chǎng)分辨率
1) 速率3255 m/s（橫波）和5750m/s（縱波） 根據(jù)用戶需要提供其它頻率、單元尺寸或設(shè)計(jì)的探頭
*) 用于無(wú)衰減材料時(shí)規(guī)定的工作范圍上限。實(shí)際上，如果頻率增加，則上限急劇降低。
可定制特殊規(guī)格
附件
描述 | 類型 | 備注 |
電纜線 | SEKM2 | 用于VS |
電纜線 | SEKL2 | 用于VRY |
電纜線 | SEKN2 | 用于VSY |
SWB70-2美國(guó)GE/SWB70-2斜探頭|貝克休斯SWB70-2斜探頭由啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司優(yōu)惠價(jià)供應(yīng)美國(guó)GE/SWB70-2斜探頭
用于大尺寸、厚部件的焊縫檢測(cè)，如管、儲(chǔ)罐、壓力容器、輪軸、鍛件、鑄件、橋梁及其他結(jié)構(gòu)件、鐵路路軌及車輪
SWB、SWK型探頭尺寸適合手工檢測(cè)，有良好的近場(chǎng)分辨力和窄脈沖寬度，是檢測(cè)小部件通用工具，也能夠檢測(cè)大尺寸物體
SWB系列:
晶片尺寸：14mmX14mm帶寬：30-60接口類型：Lemo 01
角度 | 1MHz | 2MHz | 4MHz |
35° | SWB35-1 | SWB35-2 | SWB35-5 |
35° | SWB35-O2 | ||
45° | SWB45-1 | SWB45-2 | SWB45-5 |
45° | SWB45-O2 | SWB45-O5 | |
60° | SWB45-2-EN | ||
60° | SWB60-1 | SWB60-2 | SWB60-5 |
70° | SWB60-O2 | SWB60-O5 | |
70° | SWB60-2-EN | ||
80° | SWB70-2 | SWB70-5 | |
90° | SWB70-O2 | ||
35° | SWB70-2-EN | ||
45° | SWB80-1 | SWB80-2 | SWB80-5 |
SWB90-1 |
晶片尺寸：14mmX14mm帶寬：60-80接口類型：
角度 | 1MHz | 2MHz | 5MHz |
35° | SWK70-1 | SWK35-2 | |
45° | - | SWK45-2 | SWK45-5 |
60° | - | SWK60-2 | SWK60-5 |
70° | - | SWK70-2 | SWK |
型號(hào)說(shuō)明：
-EN表示探頭有DINEN12668-2證書，如WB35-2-EN。
MWB90-O4
2MHz | 35 | MWB35-4 |
MWB35-2-EN | 35 | MWB35-O4 |
MWB35-O2-EN | 45 | MWB45-4 |
MWB45-2-EN | 45 | MWB45-O4 |
MWB45-O2-EN | 60 | MWB60-4 |
MWB60-2-EN | 60 | MWB60-O4 |
MWB60-O2-EN | 70 | MWB70-4 |
MWB70-2-EN | 70 | MWB70-O4 |
MWB70-O2-EN | 80 | MWB80-4 |
80 | MWB80-O4 | |
90 | MWB90-4 | |
MWB90-O2 |
一個(gè)探頭殼體內(nèi)裝有兩個(gè)晶片的探頭我們稱之為雙晶探頭，又稱分割式探頭。由兩個(gè)縱波晶片組合成的雙晶探頭稱為縱波雙晶探頭，又稱雙晶直探頭；由兩個(gè)橫波晶片組成的雙晶探頭稱為橫波雙晶探頭，又稱雙晶斜探頭。
這兩種雙晶探頭中，雙晶直探頭的應(yīng)用較為廣泛。雙晶直探頭的兩個(gè)縱波晶片一個(gè)用于發(fā)射超聲，一個(gè)用于接收超聲。發(fā)射壓電晶片大都采用發(fā)射性能好的鋯鈦酸鉛，接收壓電晶片大都采用接收性能好的硫酸鋰。（見下圖）
區(qū)別于單晶探頭而言，雙晶探頭的發(fā)射靈敏度和接收靈敏度都更高。雙晶探頭的兩個(gè)晶片之間有一片吸聲性強(qiáng)、絕緣性好的隔聲層，它不僅用于克服發(fā)射聲束與反射聲束的相互干擾和阻塞，而且能使脈沖變窄、分辨率提高、消除發(fā)射晶片和延遲塊之間的反射雜波進(jìn)入接收晶片，有效減少雜波。
由于雙晶探頭的發(fā)射部分和接收部分都帶有延遲塊，能使探傷盲區(qū)大幅減小，故雙晶探頭對(duì)表面缺陷的探傷十分有利。
正確選擇雙晶探頭
1、探頭頻率的選擇
超聲的發(fā)射頻率在很大程度上決定了超聲波探傷的檢測(cè)能力。頻率高時(shí)，波長(zhǎng)短，聲束指向性好，擴(kuò)散角較小，能量集中，因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力則比較強(qiáng)、分辨力好、缺陷定位準(zhǔn)確。但高頻率超聲在材料中衰減較大，穿透能力較差，反之亦然。由于雙晶探頭適用于較薄工件的探傷，不需要較強(qiáng)的穿透力。因此可以采用較高頻率的探頭。對(duì)于鍛件，板材，棒材等晶粒細(xì)小的工件，可以采用5MHz的雙晶探頭（若被檢工件表面較粗糙，高頻超聲散射較大，不易射入，則容易出現(xiàn)林狀回波）。對(duì)于晶粒粗大，超聲散射嚴(yán)重的材料，如奧斯體不銹鋼和鑄造件等，頻率高時(shí)，也會(huì)出現(xiàn)晶界引起的林狀回波，致使無(wú)法探傷，對(duì)于這一類材料，建議選用1MHz—2.5MHz的低頻率雙晶探頭。
2、晶片尺寸的選擇從以上介紹的雙晶探頭的工作原理來(lái)看，雙晶探頭探傷主要取決于雙晶探頭的聲能集中區(qū)，跟晶片的大小沒有直接的關(guān)系。雙晶探頭的晶片大小，只與工件探測(cè)面積的大小有關(guān)，當(dāng)檢測(cè)面積大時(shí)，為了提高探傷效率，宜采用晶片尺寸較大的探頭。當(dāng)檢測(cè)面積較小，或者檢測(cè)面帶有一定曲率的情況下，為了減少耦合損失宜用晶片尺寸小的探頭。
3、焦距的選擇雙晶探頭的兩個(gè)晶片都有一定的傾斜角度。發(fā)射聲束與接收聲束必然會(huì)產(chǎn)生相交，形成棱形的區(qū)域，此區(qū)域即為探傷區(qū)域。菱形區(qū)愈長(zhǎng)，焦距愈大，探測(cè)深度愈深，適合厚工件的探傷檢驗(yàn)，菱形區(qū)愈短，焦距愈小，探測(cè)深度愈淺，適合薄工件的探傷。處于棱形區(qū)的缺陷，其反射信號(hào)強(qiáng)，同時(shí)對(duì)于同樣大小的缺陷，位于棱形區(qū)中心時(shí)，反射信號(hào)。因此在實(shí)際探傷過程中，要根據(jù)被檢工件的厚度選取適當(dāng)?shù)慕咕?。焦距越小，則對(duì)薄工件的探傷越有利。一般來(lái)說(shuō)，選擇雙晶探頭的焦距小于被檢工件厚度5—10mm左右。雙晶探頭的探傷靈敏度先隨缺陷的深度增加而增高，到達(dá)最大值后又隨深度增加而下降田，這種探傷靈敏度的變化是雙晶探頭的特點(diǎn)。
雙晶直探頭板材檢測(cè)
1、探頭的選擇
板厚≤60mm厚的鋼板可選用雙晶直探頭，探傷的目的就是掃查出缺陷在整個(gè)厚度范圍內(nèi)的位置以及在板面上的分布，根據(jù)缺陷大小，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判定其合格與否。由于鋼板缺陷的富集區(qū)一般在鋼板中心部位，其次是板厚的1/4和3/4處，所以探頭的選擇和靈敏度的調(diào)整，必須考慮鋼板中心部位應(yīng)有較高的檢出能力，且其他部位不漏檢。例如檢測(cè)20mm規(guī)格鋼板，缺陷在10mm處易出現(xiàn)，選擇焦距F10探頭，以20mm大平底調(diào)整靈敏度，既能保證10mm位置處較高的檢測(cè)靈敏度，又能保證3和20mm位置有基本相同的靈敏度;同樣對(duì)于10mm鋼板，選擇焦距F5探頭，以10mm大平底調(diào)整靈敏度，保證了5mm位置處較高的檢測(cè)能力，又能保證3和10mm位置的靈敏度基本相同，所以，為保證鋼板檢測(cè)質(zhì)量，理想的雙晶探頭焦距應(yīng)等于鋼板厚度的一半。
2、掃查方式
NB/T47013-2015規(guī)定的掃查方式見下圖
1）鋼板邊緣或坡口預(yù)定線兩側(cè)（50、75、100）100%掃查； 2）中心部分間距不大于50mm平行線或間距不大于100mm的格子線掃查。
3）雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭隔聲層相垂直。
3、缺陷性質(zhì)估計(jì)
分層：缺陷波形陡直，底波明顯下降或消失；
折疊：不一定有缺陷波，但底波明顯下降，次數(shù)減少甚至消失，始波加寬；
白點(diǎn)：波形密集尖銳活躍，底波明顯下降，次數(shù)減少，重復(fù)性差，移動(dòng)探頭，回波此起彼伏。
系列 | 型號(hào) | 頻率 (MHz) | 焦距 (mm) | 單晶片尺寸 (mm) | 外觀尺寸 | 帶寬 | 接口類型 | 接口方向 |
SEB | SEB 1 | 1 | 20 | Φ21半圓 | 類型15 | 40 | 雙聯(lián) Lemo 00 | 側(cè)裝 |
SEB 1-EN | 1 | 20 | ||||||
SEB 2 | 2 | 15 | 7x18 | |||||
SEB 2-EN | 2 | 15 | ||||||
SEB 2-0° | 2 | 30 | ||||||
SEB 2-EN-0° | 2 | 30 | ||||||
SEB 4 | 4 | 12 | 6x20 | |||||
SEB 4-EN | 4 | 12 | ||||||
SEB 4-0° | 4 | 25 | ||||||
SEB 4-EN-0° | 4 | 25 | ||||||
MSEB | MSEB 2 | 2 | 8 | Φ11半圓 | 類型16 | 40 | ||
MSEB 2-EN | 2 | 8 | ||||||
MSEB 4 | 4 | 10 | 3.5x10 | |||||
MSEB 4-EN | 4 | 10 | ||||||
MSEB 4-EN-0° | 4 | 18 | ||||||
MSEB 4-0° | 4 | 18 | ||||||
MSEB 5 | 5 | 10 | Φ9半圓 | |||||
SEB KF | SEB 2 KF 5 | 2 | 6 | Φ8半圓 | 類型17 | 30-60 | Microdot X2 | |
SEB 4 KF 8 | 4 | 6 | ||||||
SEB 4 KF 8-EN | 4 | 6 | ||||||
SEB 5 KF 3 | 5 | 3 | ||||||
SEB 10 KF 3 | 10 | 3 | Φ5半圓 | 類型18 | ||||
SEB 10 KF 3-EN |
特性
獨(dú)立的聲波發(fā)射和接收單元
縱波垂直傳輸
小焦距探頭具有非常好的近場(chǎng)分辨率
使用耐磨的塑料延遲塊，即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
延遲塊由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損
在焦點(diǎn)內(nèi)特別適合剩余壁厚的測(cè)量
加上特殊的延遲塊（定制產(chǎn)品）能夠在高溫表面測(cè)量
應(yīng)用
近表面的小缺陷探測(cè)和評(píng)估
焦點(diǎn)內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測(cè)
腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測(cè)量（包括高溫情況下測(cè)量）
粘結(jié)檢測(cè)
螺釘，螺栓，銷釘
覆層和堆焊層
軸，桿，方坯芯檢測(cè)
粗晶材料
火車車輪
啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司是一家專業(yè)從事無(wú)損檢測(cè)設(shè)備代理的公司，主營(yíng)超聲波檢測(cè)設(shè)備及探頭、超聲波相控陣、超聲TOFD探傷儀、超聲波相控陣探頭以及數(shù)字成像平板等*設(shè)備，品牌有奧林巴斯NDT、美國(guó)磁通、美國(guó)sherwen、汕超、新美達(dá)、美國(guó)GE等多家產(chǎn)品。長(zhǎng)期以來(lái)，公司堅(jiān)持走科技創(chuàng)新之路，不斷拓展產(chǎn)品線及產(chǎn)品技術(shù)，加大應(yīng)用技術(shù)人員投入。
公司提供的無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備包括工業(yè)X光機(jī)、工業(yè)CT、CR、DR、工業(yè)洗片機(jī)、超聲波探傷儀、超聲波相控陣、超聲波測(cè)厚儀、超聲波探頭、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、管材的無(wú)損檢測(cè)解決方案、渦流陣列探傷儀、超聲導(dǎo)波、超聲TOFD探傷儀、渦流陣列、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑、熒光滲透線、工業(yè)內(nèi)窺鏡、大型復(fù)合材料超聲波自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)、大型超聲波板材檢測(cè)系統(tǒng)、大型超聲波管材檢測(cè)系統(tǒng)、大型壓力容器超聲波檢測(cè)系統(tǒng)、汽車點(diǎn)焊超聲波成像分析儀和其它實(shí)驗(yàn)室儀器。
超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、磁粉探傷儀、膠片、探傷劑、耦合劑、試塊、洗片槽、膠片機(jī)、黑光燈、紫外線燈、相控陣探頭、單晶直探頭、雙晶直探頭、單晶斜探頭、雙晶斜探頭、水浸探頭、保護(hù)膜探頭、表面波探頭、絕緣子超聲波探頭、爬坡探頭、TOFD探頭、楔塊探頭、楔塊、導(dǎo)波探頭、磁性探頭、單晶連接線、雙晶連接線、反差增強(qiáng)劑、密度計(jì)、觀片燈、洗片夾、拉環(huán)磁鋼、鉛字、射線機(jī)、射線燈、個(gè)人劑量報(bào)警儀、輻射儀、環(huán)境輻射儀、黑油磁懸液、黑水磁懸液、紅油磁懸液、紅水磁懸液、紅磁膏、黑磁膏、紅磁粉、黑磁粉、噴壺、提升力試塊、梨形測(cè)定管、直型測(cè)定管、消泡劑、防銹劑、分散劑、磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)、白光照度計(jì)、紫外照度計(jì)、暗室紅燈、三色燈、顯影粉、定影粉、顯影液、定影液、暗袋、增感屏、防護(hù)背心、鉛衣、像質(zhì)計(jì)、無(wú)損檢測(cè)配件、
長(zhǎng)期以來(lái)，依托高素質(zhì)的技術(shù)人員和銷售隊(duì)伍，本著誠(chéng)信守法，客戶的經(jīng)營(yíng)原則，以良好的信譽(yù)、豐富的經(jīng)驗(yàn)、周到的服務(wù)，為客戶提供了的檢測(cè)設(shè)備及技術(shù)解決方案，贏得了國(guó)內(nèi)外廣大用戶的信賴和好評(píng)。我們提供的設(shè)備、系統(tǒng)及方案應(yīng)用于中國(guó)的各種工業(yè)領(lǐng)域，特別應(yīng)用于航空航天、汽車制造、石油化工、船舶制造、冶金、鐵路、核工業(yè)及電力、特檢、高校及研究機(jī)構(gòu)等。
良好信譽(yù) – 啟航檢測(cè)科技作為無(wú)損檢測(cè)行業(yè)的，依托高素質(zhì)團(tuán)隊(duì)及誠(chéng)信周到的服務(wù)，得到了客戶的一致贊同。
豐富經(jīng)驗(yàn) – 啟航檢測(cè)科技的銷售人員及技術(shù)人員大部分都擁有本科及以上學(xué)歷，在無(wú)損檢測(cè)行業(yè)有著多年的經(jīng)驗(yàn)及專業(yè)知識(shí)。
高效服務(wù) – 啟航檢測(cè)科技總部位于上海，全國(guó)主要城市設(shè)立分支機(jī)構(gòu)。任何時(shí)間和地點(diǎn)，隨時(shí)準(zhǔn)備好為您提供及時(shí)可靠的服務(wù)。
解決方案 – 啟航檢測(cè)科技依托高素質(zhì)的技術(shù)團(tuán)及專業(yè)的本地化服務(wù)，我們隨時(shí)為您提供及時(shí)全面的無(wú)損檢測(cè)解決方案。
