USM36S/M2008風電葉片探傷儀|美國GE雙晶探頭|啟航檢測科技（上海）有限公司全國*

選型：

以下3種機型都可選擇LEMO 01或BNC探頭接口，儀器基本配置包括主機、鋰電池、外置電源、SD卡、說明書、儀器箱。主要功能區(qū)別如下：

USM36     一款基本型超聲波探傷儀

USM36 DAC 包含DAC/TCG、AWS、SWP

USM36 S    包含DAC/TCG, AWS, SWP, DGS, PPRF, BEA, 3G

低配的USM36可選配功能：

產(chǎn)品描述

斜探頭, 雙晶 (TR)，雙晶斜探頭

應(yīng)用

•   VS 橫波型

– 檢測小的近表缺陷

– 薄壁管和容器

– 環(huán)件

•   VRY 和VSY 縱波型

– 粗晶粒焊縫檢測

– 衰減材料

– 奧氏體焊縫

–   0°型號應(yīng)用于"爬波"

性能特征

•   **的近表分辨率

•   散射噪聲小

•   模鑄外殼耐用，符合人機工程學

•   VS 和 VSY 型Microdot 連接口，側(cè)裝

•   VRY型 Lemo 00 連接口

帶塑料楔的TR斜探頭

主要特性：

·單獨的發(fā)射和接收相傾斜，產(chǎn)生一個聚焦區(qū)域，提高缺陷探測能力

·VS..類型探頭進行橫波斜掃描

·粗晶探頭VRY..和VSY..進行縱波斜掃描

·當測試強聲波散射特性材料時，短脈沖粗晶探頭可以獲得很高信噪比

·外殼堅固實用

主要用途：

通 常 ： 近 表 面 或 者 確 定 區(qū) 域 小 缺 陷 檢 測 和 評 估 ， 這 些 位 置 是 TR探頭不能靠近的區(qū)域，還有那些與表面垂直或成一定角度的 缺陷。

VS..： 光滑或輕微粗糙表面小型或大物體的檢測，對橫波衰減效應(yīng)弱 的材料（如非合金或低合金細晶粒鋼）。例如，它們用于探測 小支架上的徑向裂縫、薄壁容器內(nèi)部的腐蝕性裂縫，還有以直 接掃描模式熱交換管道中的橫向裂縫。這意味著從被測物體的 后壁沒有聲波束的反射。

VRY..： 用于測試那些聲波散射特性強而不能用橫波測試的中大型尺寸 的厚壁物體（如奧氏體鋼制成的容器、化工和能源廠的奧氏體 焊接件）。用于低碳鋼檢測的爬波由70°探頭產(chǎn)生。 

VSY..： 用于那些不能用橫波檢測以及其形狀需要小型探頭檢測的中小 型尺寸物體的測試。例如，它們被證明可以很好地檢測復雜形 狀零件焊縫。用于低碳鋼檢測的爬波由70°探頭產(chǎn)生。

用TR斜探頭VS45測試焊點

的貫通性

用TR斜探頭VS60檢測

鋁環(huán)內(nèi)部的縱向裂縫

用斜探頭VRY60檢測奧氏

體管道焊縫檢測

用斜探頭VSY45和VSY70進

行泵架的焊縫檢測

用于縱波或橫波的帶組合塑料楔的TR斜探頭

斜探頭, 雙晶 (TR)

典型波形與頻譜

探頭規(guī)格型號

特性：非常好的近場分辨率

1)  速率3255  m/s（橫波）和5750m/s（縱波） 根據(jù)用戶需要提供其它頻率、單元尺寸或設(shè)計的探頭

*)  用于無衰減材料時規(guī)定的工作范圍上限。實際上，如果頻率增加，則上限急劇降低。

可定制特殊規(guī)格

附件

SWB70-2美國GE/SWB70-2斜探頭|貝克休斯SWB70-2斜探頭由啟航檢測科技（上海）有限公司優(yōu)惠價供應(yīng)美國GE/SWB70-2斜探頭

用于大尺寸、厚部件的焊縫檢測，如管、儲罐、壓力容器、輪軸、鍛件、鑄件、橋梁及其他結(jié)構(gòu)件、鐵路路軌及車輪

SWB、SWK型探頭尺寸適合手工檢測，有良好的近場分辨力和窄脈沖寬度，是檢測小部件通用工具，也能夠檢測大尺寸物體

SWB系列:

晶片尺寸：14mmX14mm帶寬：30-60接口類型：Lemo 01

晶片尺寸：14mmX14mm帶寬：60-80接口類型：

型號說明：

-EN表示探頭有DINEN12668-2證書，如WB35-2-EN。

MWB90-O4

一個探頭殼體內(nèi)裝有兩個晶片的探頭我們稱之為雙晶探頭，又稱分割式探頭。由兩個縱波晶片組合成的雙晶探頭稱為縱波雙晶探頭，又稱雙晶直探頭；由兩個橫波晶片組成的雙晶探頭稱為橫波雙晶探頭，又稱雙晶斜探頭。

這兩種雙晶探頭中，雙晶直探頭的應(yīng)用較為廣泛。雙晶直探頭的兩個縱波晶片一個用于發(fā)射超聲，一個用于接收超聲。發(fā)射壓電晶片大都采用發(fā)射性能好的鋯鈦酸鉛，接收壓電晶片大都采用接收性能好的硫酸鋰。（見下圖）

區(qū)別于單晶探頭而言，雙晶探頭的發(fā)射靈敏度和接收靈敏度都更高。雙晶探頭的兩個晶片之間有一片吸聲性強、絕緣性好的隔聲層，它不僅用于克服發(fā)射聲束與反射聲束的相互干擾和阻塞，而且能使脈沖變窄、分辨率提高、消除發(fā)射晶片和延遲塊之間的反射雜波進入接收晶片，有效減少雜波。

由于雙晶探頭的發(fā)射部分和接收部分都帶有延遲塊，能使探傷盲區(qū)大幅減小，故雙晶探頭對表面缺陷的探傷十分有利。

正確選擇雙晶探頭

1、探頭頻率的選擇

超聲的發(fā)射頻率在很大程度上決定了超聲波探傷的檢測能力。頻率高時，波長短，聲束指向性好，擴散角較小，能量集中，因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力則比較強、分辨力好、缺陷定位準確。但高頻率超聲在材料中衰減較大，穿透能力較差，反之亦然。由于雙晶探頭適用于較薄工件的探傷，不需要較強的穿透力。因此可以采用較高頻率的探頭。對于鍛件，板材，棒材等晶粒細小的工件，可以采用5MHz的雙晶探頭（若被檢工件表面較粗糙，高頻超聲散射較大，不易射入，則容易出現(xiàn)林狀回波）。對于晶粒粗大，超聲散射嚴重的材料，如奧斯體不銹鋼和鑄造件等，頻率高時，也會出現(xiàn)晶界引起的林狀回波，致使無法探傷，對于這一類材料，建議選用1MHz—2.5MHz的低頻率雙晶探頭。

2、晶片尺寸的選擇從以上介紹的雙晶探頭的工作原理來看，雙晶探頭探傷主要取決于雙晶探頭的聲能集中區(qū)，跟晶片的大小沒有直接的關(guān)系。雙晶探頭的晶片大小，只與工件探測面積的大小有關(guān)，當檢測面積大時，為了提高探傷效率，宜采用晶片尺寸較大的探頭。當檢測面積較小，或者檢測面帶有一定曲率的情況下，為了減少耦合損失宜用晶片尺寸小的探頭。

3、焦距的選擇雙晶探頭的兩個晶片都有一定的傾斜角度。發(fā)射聲束與接收聲束必然會產(chǎn)生相交，形成棱形的區(qū)域，此區(qū)域即為探傷區(qū)域。菱形區(qū)愈長，焦距愈大，探測深度愈深，適合厚工件的探傷檢驗，菱形區(qū)愈短，焦距愈小，探測深度愈淺，適合薄工件的探傷。處于棱形區(qū)的缺陷，其反射信號強，同時對于同樣大小的缺陷，位于棱形區(qū)中心時，反射信號。因此在實際探傷過程中，要根據(jù)被檢工件的厚度選取適當?shù)慕咕?。焦距越小，則對薄工件的探傷越有利。一般來說，選擇雙晶探頭的焦距小于被檢工件厚度5—10mm左右。雙晶探頭的探傷靈敏度先隨缺陷的深度增加而增高，到達最大值后又隨深度增加而下降田，這種探傷靈敏度的變化是雙晶探頭的特點。

雙晶直探頭板材檢測

1、探頭的選擇

板厚≤60mm厚的鋼板可選用雙晶直探頭，探傷的目的就是掃查出缺陷在整個厚度范圍內(nèi)的位置以及在板面上的分布，根據(jù)缺陷大小，依據(jù)標準判定其合格與否。由于鋼板缺陷的富集區(qū)一般在鋼板中心部位，其次是板厚的1/4和3/4處，所以探頭的選擇和靈敏度的調(diào)整，必須考慮鋼板中心部位應(yīng)有較高的檢出能力，且其他部位不漏檢。例如檢測20mm規(guī)格鋼板，缺陷在10mm處易出現(xiàn)，選擇焦距F10探頭，以20mm大平底調(diào)整靈敏度，既能保證10mm位置處較高的檢測靈敏度，又能保證3和20mm位置有基本相同的靈敏度;同樣對于10mm鋼板，選擇焦距F5探頭，以10mm大平底調(diào)整靈敏度，保證了5mm位置處較高的檢測能力，又能保證3和10mm位置的靈敏度基本相同，所以，為保證鋼板檢測質(zhì)量，理想的雙晶探頭焦距應(yīng)等于鋼板厚度的一半。

2、掃查方式

NB/T47013-2015規(guī)定的掃查方式見下圖

1）鋼板邊緣或坡口預(yù)定線兩側(cè)（50、75、100）100%掃查； 2）中心部分間距不大于50mm平行線或間距不大于100mm的格子線掃查。

3）雙晶直探頭掃查時，探頭的移動方向應(yīng)與探頭隔聲層相垂直。

3、缺陷性質(zhì)估計

分層：缺陷波形陡直，底波明顯下降或消失；

折疊：不一定有缺陷波，但底波明顯下降，次數(shù)減少甚至消失，始波加寬；

白點：波形密集尖銳活躍，底波明顯下降，次數(shù)減少，重復性差，移動探頭，回波此起彼伏。

特性

獨立的聲波發(fā)射和接收單元

縱波垂直傳輸

小焦距探頭具有非常好的近場分辨率

使用耐磨的塑料延遲塊，即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性

延遲塊由一個金屬環(huán)保護以防磨損

在焦點內(nèi)特別適合剩余壁厚的測量

加上特殊的延遲塊（定制產(chǎn)品）能夠在高溫表面測量

應(yīng)用

近表面的小缺陷探測和評估

焦點內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測

腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測量（包括高溫情況下測量）

粘結(jié)檢測

螺釘，螺栓，銷釘

覆層和堆焊層

軸，桿，方坯芯檢測

粗晶材料

火車車輪

啟航檢測科技（上海）有限公司是一家專業(yè)從事無損檢測設(shè)備代理的公司，主營超聲波檢測設(shè)備及探頭、超聲波相控陣、超聲TOFD探傷儀、超聲波相控陣探頭以及數(shù)字成像平板等*設(shè)備，品牌有奧林巴斯NDT、美國磁通、美國sherwen、汕超、新美達、美國GE等多家產(chǎn)品。長期以來，公司堅持走科技創(chuàng)新之路，不斷拓展產(chǎn)品線及產(chǎn)品技術(shù)，加大應(yīng)用技術(shù)人員投入。

公司提供的無損檢測儀器設(shè)備包括工業(yè)X光機、工業(yè)CT、CR、DR、工業(yè)洗片機、超聲波探傷儀、超聲波相控陣、超聲波測厚儀、超聲波探頭、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、管材的無損檢測解決方案、渦流陣列探傷儀、超聲導波、超聲TOFD探傷儀、渦流陣列、磁粉探傷機、著色滲透劑、熒光滲透線、工業(yè)內(nèi)窺鏡、大型復合材料超聲波自動化檢測系統(tǒng)、大型超聲波板材檢測系統(tǒng)、大型超聲波管材檢測系統(tǒng)、大型壓力容器超聲波檢測系統(tǒng)、汽車點焊超聲波成像分析儀和其它實驗室儀器。

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